L'epsilometro per misurare le proprietà dielettriche dei materiali misura i materiali di substrati dielettrici a frequenze da 3 MHz a 6 GHz e può contenere campioni di fogli di spessore compreso tra 0,3 e 3 mm.

Sfruttando la capacità di integrazione dei network ad una porta è stato realizzato questo strumento che tramite un software specifico permette misure delle proprietà dielettriche dei materiali da 3 MHz a 6 GHz con spessore da 0.3 a 3mm. Sfrutta un nuovo principio di modellazione che permette di ricavare permettività e perdita. E’ lo strumento ideale per la valutazione di tutti i materiali impiegati nella costruzione di circuiti a microonde, coperture di antenna, packaging per dispositivi wireless.

L'epsilometro include un R60 VNA con software, dispositivo di misurazione, software per l'epsilometro e campione di calibrazione.

L'epsilometro è stato sviluppato in collaborazione con Compass Technology, fornitore leader di soluzioni e sistemi di misurazione dei materiali.


Specifiche:
- Intervallo di frequenza: <10 MHz a 6 GHz
- Impedenza: 50 Ohm
- Spessore foglio: da 0,3 a 3 mm
- Il database è popolato fino ad un permittività di 25